中山市TBT預(yù)警防控平臺
——技術(shù)性貿(mào)易措施資源
固定式智能開關(guān)的安規(guī)測試,,在歐洲需要符合EN 60669-2-1, 隨著IEC 60669-2-1:2021 的發(fā)布,,相應(yīng)的EN版本也會很快發(fā)布,,在設(shè)計時需要注意核心元器件參數(shù)的選擇,特別是自整流負(fù)載,。
如下情況需要注意:
?在壽命測試方面,和傳統(tǒng)的機械開關(guān)標(biāo)準(zhǔn)(IEC/EN 60669-1)不同,,針對電子式開關(guān),,自整流負(fù)載在IEC 60669-2-1:2021中,從250W擴充到400W,應(yīng)用范圍更廣,,測試更加嚴(yán)苛,;
?針對表104中容易測試失敗的地方,需要注意Ipeak電流,,如果是MOS管燈電子開關(guān),,特別是調(diào)光器產(chǎn)品,很容易在這個沖擊電流中壞掉,,造成測試失敗,。
同時如果內(nèi)置了電流保險絲,因為這個沖擊沖擊電流比較大,,也很容易失敗,。
?針對如上情況,,有的廠家在性能要求不高的情況下,會使用繼電器作為負(fù)載斷開裝置,,那么也需要留意標(biāo)準(zhǔn)的負(fù)載短路測試,,有可能會造成失敗。
101.4 Short circuit in the load circuit
The prospective short-circuit current of the supply shall be 1 500 A RMS at a voltage equal to the rated voltage of the electronic switch under test.
The prospective let-through I2t minimum value shall be 15 000 A2s.
從以上測試要求可以看出,,I2t需要達到15 000 A2s,,這種大能量測試時,因為繼電器的動作時間相對比較慢,,繼電器接點容易黏連,,造成測試失敗。